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DIN 50994 pdf
  • DIN 50994:2017 – Messung von Schichten – Zerstörungsfreie Leitfähigkeitsmessung metallischer Schichten 5.2 Abhebeeffekt (Lift-Off-Effekt) Als eine Besonderheit des phasensensitiven Wirbelstromverfahrens kann der Prüfkopf in bestimmten Bereichen von der Oberfläche der Beschichtung oder des Teils abgehoben werden, ohne dass der Leitfähig- keitsmesswert wesentlich verfälscht wird (siehe Anhang B). Das ermöglicht die berührungsfreie Messung von bewegten Teilen, sehr weichen Beschichtungen oder die Messung von leitfähigen Beschichtungen unter einer nichtleitenden Schicht (z. B. Lackschutzschicht), ohne diese zu entfernen. Der nutzbare Abhebebereich hängt vom jeweiligen Prüfkopfdesign ab und kann im Bereich von ca. 100 µm bis zu 1 mm liegen. Oft werden vom Hersteller...